根据权利要求1所述的一种多通道高精密LCR测试系统，其特征在于，所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元，所述MCU模块与所述测量CPLD连接，所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试，所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接，所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号，所述DDS合成单... 【查看详情】